（一）、箱體構(gòu)造：

2.1.1. 內(nèi)箱材料：采用1.2mm厚SUS304#不銹鋼經(jīng)過高精度數(shù)控設(shè)備切割加工后彎折成型，接縫處采用氬弧焊接打磨拋光處理，精美大方。

2.1.2. 外箱材料：采用1.2mm厚冷軋鋼板經(jīng)過高精度數(shù)控設(shè)備切割加工后彎折成型，接縫處采用氬弧焊接打磨拋光處理后高溫噴粉烤漆處理表面，有效防止生銹，外觀烤漆處理。

2.1.3. 保溫材料：采用耐高溫玻璃纖維棉+聚氨酯硬質(zhì)發(fā)泡膠制作而成混合保溫層，保溫效果明顯。

2.1.4. 斷熱層：高溫區(qū)與低溫區(qū)間采用加厚保溫層斷熱，吊籃移動孔連接板采用環(huán)氧樹脂板斷熱。

手機主板冷熱沖擊試驗箱是一種專門用于模擬手機主板在快速溫度變化環(huán)境下的耐受能力和穩(wěn)定性的實驗設(shè)備。由于手機主板在實際使用過程中會經(jīng)歷外部環(huán)境溫度的劇烈變化，例如從寒冷的室外進入溫暖的室內(nèi)，或是在高溫環(huán)境下使用手機，冷熱交替的情況可能對主板及其元件造成影響。冷熱沖擊試驗箱通過模擬這一溫度變化過程，檢測手機主板的耐溫性、穩(wěn)定性以及可能發(fā)生的故障或性能衰退。

主要功能與作用：

1. 溫度沖擊模擬：冷熱沖擊試驗箱能夠模擬惡劣溫差對手機主板的影響。在短時間內(nèi)通過快速溫度變化，模擬實際環(huán)境中手機主板所可能經(jīng)歷的溫度劇烈變化。試驗箱能將溫度快速從高溫切換到低溫，或反向操作，從而測試主板在不同溫度下的適應(yīng)能力。

2. 檢測主板穩(wěn)定性：在測試過程中，冷熱沖擊試驗箱可以檢測手機主板的可靠性、電子元件是否能在溫度波動較大的環(huán)境中穩(wěn)定工作。例如，檢查主板電路板、連接器、芯片等元件是否出現(xiàn)裂紋、松動、脫焊、短路等問題。

3. 模擬實際使用環(huán)境：手機主板在使用過程中可能會面臨外界溫度的快速變化，尤其是隨著季節(jié)變化或在一些特殊環(huán)境中使用。冷熱沖擊試驗箱能夠加速這一過程，幫助生產(chǎn)商驗證主板在長期使用中的穩(wěn)定性和可靠性。

4. 預(yù)防性故障檢測：通過冷熱沖擊試驗，能夠提前發(fā)現(xiàn)因溫度變化引起的潛在故障，例如元器件膨脹、收縮，焊點疲勞，或因溫差變化導(dǎo)致的物理損傷等。這樣可以幫助生產(chǎn)商在生產(chǎn)階段就發(fā)現(xiàn)并修復(fù)這些問題，從而提高手機主板的質(zhì)量。

主要技術(shù)參數(shù)：

1. 溫度范圍：冷熱沖擊試驗箱通常提供的溫度范圍一般為**-40°C至150°C**，但不同設(shè)備和實驗需求可能有所不同。這個溫度范圍足以模擬手機主板在現(xiàn)實環(huán)境中的溫差沖擊。

2. 溫度變化速率：試驗箱具有快速變化的溫度控制能力。溫度變化的速率通?？梢赃_到5°C至10°C/分鐘，具體數(shù)值取決于設(shè)備的配置。快速的溫度變化有助于模擬真實使用過程中手機主板所承受的應(yīng)力。

3. 試驗周期與時間：試驗的時間通常是設(shè)置為幾個小時到幾天不等，依據(jù)產(chǎn)品的使用年限和所需驗證的沖擊程度來決定。常見的試驗周期包括數(shù)十次的冷熱循環(huán)，或者在特定溫度下的穩(wěn)定測試。

4. 設(shè)備控制系統(tǒng)：現(xiàn)代的冷熱沖擊試驗箱配有優(yōu)良的數(shù)字化控制系統(tǒng)，能夠精確控制溫度變化、時間、濕度等參數(shù)。一些設(shè)備還支持數(shù)據(jù)記錄與報警系統(tǒng)，確保測試數(shù)據(jù)的準確性和設(shè)備運行的穩(wěn)定性。

5. 試驗空間：試驗箱內(nèi)部空間設(shè)計通?？梢匀菁{多個手機主板樣品，測試時可以根據(jù)需要設(shè)置多個測試點?？臻g大小應(yīng)根據(jù)測試樣品的尺寸來選擇。

試驗原理：

冷熱沖擊試驗箱的基本工作原理是通過控制設(shè)備內(nèi)的溫度變化，將樣品在短時間內(nèi)從一個惡劣溫度環(huán)境迅速轉(zhuǎn)變到另一個惡劣溫度環(huán)境。具體的操作方式一般是通過冷熱風循環(huán)系統(tǒng)，將樣品暴露在設(shè)定的溫度下。試驗過程中，手機主板將會在高溫環(huán)境和低溫環(huán)境之間交替進行。

• 熱沖擊：先將試驗樣品置于高溫環(huán)境中，如 80°C、100°C，經(jīng)過一定時間后，迅速將其轉(zhuǎn)移到低溫環(huán)境（如-40°C），以觀察是否出現(xiàn)因快速溫差變化導(dǎo)致的物理或電氣問題。

• 冷沖擊：將樣品放入低溫環(huán)境（如-40°C），然后迅速切換至高溫環(huán)境（如70°C、80°C），以測試主板在冷到熱的溫度變化下是否能夠正常工作。

試驗過程中可能的故障與問題：

1. 焊點裂開：主板在熱膨脹和冷收縮的過程中，焊接點可能會受到影響，導(dǎo)致焊點開裂或脫焊，進而影響電路連接。

2. 芯片損壞：由于主板上集成了很多精密電子元器件，在冷熱沖擊的情況下，芯片和其他敏感元件可能會因應(yīng)力變化而損壞或性能下降。

3. 電氣短路：在冷熱溫度變化下，主板上的金屬材料可能會發(fā)生收縮、膨脹或變形，從而引起電氣短路。

4. 塑料部件變形：一些手機主板上可能有塑料支架或零部件，這些部件可能在冷熱溫差下發(fā)生變形或斷裂，導(dǎo)致整體結(jié)構(gòu)損壞。

5. 材料老化：溫度循環(huán)的反復(fù)作用可能加速主板材料的老化，影響其使用壽命和穩(wěn)定性。

應(yīng)用領(lǐng)域：

1. 手機制造：主板冷熱沖擊試驗箱廣泛用于手機制造商在研發(fā)和生產(chǎn)過程中進行產(chǎn)品質(zhì)量驗證。通過檢測主板在惡劣溫差變化下的表現(xiàn)，確保手機產(chǎn)品在多種環(huán)境下都能正常運行。

2. 電子產(chǎn)品測試：不僅僅是手機，其他電子產(chǎn)品如筆記本電腦、平板、智能硬件等也可以使用冷熱沖擊試驗箱進行類似的可靠性測試。

3. 汽車電子：手機主板的測試原理也可以應(yīng)用到汽車電子行業(yè)，如車載電腦、導(dǎo)航系統(tǒng)等電子元件，檢測其在高溫、低溫環(huán)境下的穩(wěn)定性和安全性。

4. 消費電子產(chǎn)品：用于其他消費電子產(chǎn)品如耳機、智能手表、可穿戴設(shè)備等進行耐高溫、低溫沖擊的測試。

設(shè)備維護與保養(yǎng)：

1. 定期檢查溫度傳感器：確保溫度控制系統(tǒng)的準確性，防止溫度波動過大或溫度失控。

2. 清潔設(shè)備內(nèi)部：定期清潔設(shè)備內(nèi)部，尤其是冷卻和加熱系統(tǒng)，避免灰塵、雜物影響試驗效果。

3. 定期校準設(shè)備：通過校準溫度傳感器、濕度傳感器等確保設(shè)備性能穩(wěn)定，保證實驗數(shù)據(jù)的準確性。

4. 檢查密封系統(tǒng)：冷凍和加熱系統(tǒng)的密封性非常重要，定期檢查試驗箱門的密封性，防止溫度泄漏。

總結(jié)：

手機主板冷熱沖擊試驗箱是一種用于評估手機主板在經(jīng)歷快速溫度變化后的穩(wěn)定性和可靠性的測試設(shè)備。通過模擬不同環(huán)境下的溫度劇烈變化，幫助生產(chǎn)商檢測主板在高溫、低溫條件下的性能表現(xiàn)，及時發(fā)現(xiàn)潛在的故障問題。該設(shè)備對于提高手機質(zhì)量和確保電子產(chǎn)品的可靠性具有重要意義。